ASTM D4633-1986 用动力贯入器试验系统测量应力波能的试验方法
时间:2024-05-12 23:12:38 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9246
【英文标准名称】:TestMethodForStressWaveEnergyMeasurmentForDynamicPenetrometerTestingSystems
【原文标准名称】:用动力贯入器试验系统测量应力波能的试验方法
【标准号】:ASTMD4633-1986
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1986
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D18.02
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:针入度计;电压;石;岩石;应力;土壤;天然石料;土工织物;建筑;施工材料;试验;测量
【英文主题词】:Driveweight(hammer)kineticenergy;Droptests;Dynamicanalysis;Energy;Fieldtesting-rock;Kineticenergy;Penetrometertesting;Rope-catheadsystems;Soil;Stress-soil/rock;stresswaveenergymeasurementfordynamicpenetrometertesting
【摘要】:1.1Thistestmethoddescribestheprocedureformeasuringthatpartofthedriveweight(hammer)kineticenergythatentersthepenetrometerconnectorrodcolumnduringdynamic(hammerimpact)penetrometertestingofsoil.1.2Thistestmetho
【中国标准分类号】:A53
【国际标准分类号】:19_060
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:
【英文标准名称】:AmmoniaRefrigerationValves
【原文标准名称】:氨制冷机阀门
【标准号】:ANSI/IIAR3-2012
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2012
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:氨;控制阀;制冷剂;制冷;截止阀;阀门
【英文主题词】:Ammonia;Controlvalves;Refrigerants;Refrigeration;Shut-offvalves;Valves
【摘要】:Specifiescriteriaformaterials,designparameters,markingandtestingforvalvesandstrainers.Thestandardappliestoshutoffvalves,controlvalvesandstainersdesignedandmanufacturedforusedinclosedcircuitrefrigeratingsystemswhereammoniaisusedastherefrigerant.
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:23_060_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part1:Time-dependentdielectricbreakdown(TDDB)testforinter-metallayers
【原文标准名称】:半导体器件.第1部分:金属层之间的时间相关的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:IEC62374-1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检验设备;组件;定义;介质;电介质击穿;电气工程;电子设备及元件;外壳;故障;大门;热室;层;寿命;半导体器件;应力;试验;试验装置;时间依赖;电压;电压应力
【英文主题词】:Checkingequipment;Components;Definitions;Dielectric;Dielectricbreakdown;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Layers;Life(durability);Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:ThispartofIEC62374describesatestmethod,teststructureandlifetimeestimationmethodofthetime-dependentdielectricbreakdown(TDDB)testforinter-metallayersappliedinsemiconductordevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080
【页数】:36P.;A4
【正文语种】: